自学考试《实验室管理学》专项复习题:单选101-200
101. 13S指的是表示存在随机误差(B) (中)
A、 同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过+2s,另一质控结果超过 -2s
B、 一个质控结果超过±3s,为违背此规则,提示存在随机误差
C、 两个连续质控结果同时超过+2s 或- 2s,为违背此规则,表示存在系统误差
D、 一个质控品连续的四次测定结果都超过+1s或- 1s,为违背此规则,表示存在系统误差
E、 十个连续的质控结果在平均数一侧,为违背此规则,表示存在系统误差
102.R4S指的是(A) (易)
A、 同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过+2s,另一质控结果超过- 2s,表示存在随 机误差
B、一个质控结果超过X±3S,为违背此规则,提示存在随机误差
C、 两个连续质控结果同时超过+2s或 - 2s,为违背此规则,表示存在系统误差
D、 一个质控品连续的四次测定结果都超过+1s或- 1s,两个质控品连续两次测定都超过+1s或-1s,为违背此规则,表示存在系统误差
E、 十个连续的质控结果在平均数一侧,为违背此规则,表示存在系统误差
103.22S指的是(C)(难)
A、 同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过+2s,另一质控结果超过- 2s,表示存在随机误差
B、 一个质控结果超过±3s,为违背此规则,提示存在随机误差
C、 两个连续质控结果同时超过+2s或 - 2s,为违背此规则,表示存在系统误差
D、 一个质控品连续的四次测定结果都超过十1s或- 1s,两个质控品连续两次测定都超过X+1s或X -1s,为违背此规则,表示存在系统误差
E、 10个连续的质控结果在平均数一侧,为违背此规则,表示存在系统误差
104.41S指的是(D) (中)
A、 同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过十2s,另一质控结果超过- 2s,表示存在随机误差
B、一个质控结果超过X±3s,为违背此规则,提示存在随机误差
C、 两个连续质控结果同时超过+2s 或- 2s,为违背此规则,表示存在系统误差
D、 一个质控品连续的四次测定结果都超过+1s或- 1s,两个质控品连续两次测定都超过+1s或一1s,为违背此规则,表示存在系统误差
E、 十个连续的质控结果在平均数一侧,为违背此规则,表示存在系统误差
105.10X指的是(E) (难)
A、 同批两个质控结果之差值超过4s,即一个质控结果超过十2s,另一质控结果超过 - 2s,表示存在随机误差
B、 一个质控结果超过±3s,为违背此规则,提示存在随机误差
C、 两个连续质控结果同时超过+2s或 - 2s,为违背此规则,表示存在系统误差
D、 一个质控品连续的四次测定结果都超过十1s或- 1s,两个质控品连续两次测定都超过+1s或-1s,为违背此规则,表示存在系统误差
E、 10个连续的质控结果在平均数一侧,为违背此规则,表示存在系统误差
106.Levey--Jennings质控图中中心线为(A) (难)
A、 线
B、 ±s线
C、 ±2s线
D、 ±3s线
E、 ±4s线
107.LeveyˉJennings质控图中警告线为(C) (中)
A、 线
B、 ±s线
C、 ±2s线
D、 ±3s线
E、 ±4s线
108.LeveyˉJennings质控图中常用的失控线为(D) (中)
A、 线
B、 ±s线
C、 ±2s线
D、 ±3s线
E、 ±4s线
109.41S规则的控制界限是(B) (难)
A、线
B、±s线
C、±2s线
D、±3s线 `
E、±4s线
110.R4S规则的控制界限是(C) (易)
A、 线
B、 ±s线
C、 ±2s线
D、 ±3s线
E、 ±4s线
111.(2of3)2S规则的控制界限为(C) (难)
A、 线
B、 ±s线
C、 ±2s线
D、 ±3s线
E、 ±4s线
112.在临床检验质量控制中,其敏感度的指标是(B) (中)
A、 假失控概率
B、 误差检出概率
C、 在控预测值
D、 失控预测值
E、 失控效率
113.在临床检验质量控制中,其特异度的指标是(A) (难)
A、 假失控概率
B、 误差检出概率
C、 在控预测值
D、 失控预测值
E、 失控效率
114.误差检出概率指的是(B) (中)
A、 假失控批数/(假失控批数十真在控批数)×100%
B、 真失控批数/真失控批数十假在控批数)×100%
C、 真失控批数/(真失控批数十假失控批数)x 100%
D、 假在控批数/(真在控批数十假在控批数)×100%
E、 真在控批数/(真在控批数十假在控批数)×100%
115.假失控概率指的是(A) (难)
A、 假失控批数/(假失控批数十真在控批数)×100%
B、 真失控批数/真失控批数十假在控批数)×100%
C、 真失控批数/(真失控批数十假失控批数)×100%
D、 假在控批数/(真在控批数十假在控批数)×100%
E、 真在控批数/(真在控批数十假在控批数)×100%