静态/动态测量法

　　静态测量法：让主板暂停在某一特写状态下，根据电路逻辑原理或芯片输出与输入之间的逻辑关系，用万用表或逻辑笔测量相关点电平，来分析判断故障原因。
　　动态测量分析法：编制专用论断程序或人为设置正常条件，在机器运行过程中，用示波器测量观察有关组件的波形，并与正常的波形进行比较，以便判断故障部位。
　　由于主板上的控制逻辑集成度越来越高，因此其逻辑正确性，已经很难通过测量来判断。建议你先判断逻辑关系简单的芯片及阻容元件，然后再将故障集中在逻辑关系难以判断的大规模集成电路芯片。